1.
Lamagna A, Boselli A. Correlación entre los parámetros de crecimiento y las características de lingotes de silicio obtenidos por la técnica Czochralski. AVERMA [Internet]. 9 de septiembre de 2022 [citado 22 de noviembre de 2024];(1):149-62. Disponible en: https://portalderevistas.unsa.edu.ar/index.php/averma/article/view/2995